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综合测试模式
测试模式是利用程序化设计功能，针对不同之测试项目设定不同之测试条件而予以同时且自动之测试，以满足不同之需求，达到****效率，可分成
n 测试条件设定
n ...
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学习短断路设定
本机台对于断短路设定是以学习的方式作设定的，亦即将测试线材之连接情形记忆在系统中，而系统将测试之结果显示于LCD上
4 操作程序
(a) 按下[Learn]...
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查看统计资料 (Stat)
本功能可查看测试结果之统计资料，包括：测试总数、良品个数、不良品个数以及不良原因分析亦即寻求项目分类不良品个数
4 操作程序
(a) 按...
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日期时间设定
(a) 按下[Sys]
(b) 请以[↑]或[↓]选择至本项目并按下[Enter]
(c) LCD显示画面如下
(d) 按下S1[设定]
(e) 请分别输入正确日期与...
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测试环境设定
(a) 按下[Sys] ,以[↑]或[↓]选择至本项功能
(b) 按下[Enter]
(c) LCD显示画面如下
(d) 请以[↑]或[↓]选择所需...
